Cílem je seznámení s principy fungování a aplikacemi různých bezkontaktních metod, které se dají využít v oblasti experimentální mechaniky, materiálového inženýrství, průmyslové kontroly a defektoskopie. Metody generace a detekce fyzikálních polí. Bezkontaktní optické a elektronické metody měření makro a mikrotopografie povrchů (optická interferenční mikroskopie, konfokální mikroskopie, holografická mikroskopie, SNOM – optická skenovací mikroskopie blízkého pole, moderní metody optické interferometrie, optická deflektometrie, AFM - Atomic Force Microscopy, metody elektronové mikroskopie – SEM, TEM, optické rozptylové metody (BRDF, TIS), fotogrammetrie). Optické metody měření deformací, napětí, posunů a vzdáleností (holografická interferometrie, speckle metrologie, ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry), moiré metody, fotoelasticimetrie, triangulační metody, projekční metody, korelační metody, kapacitní metody). Optická koherenční tomografie. Bezkontaktní měření vibrací a rychlostí pohybu vyšetřovaných objektů pomocí optických metod (Dopplerovská laserová vibrometrie, Dopplerovská anemometrie).

Pro studium doktorského předmětu Bezkontaktní metody v experimentální mechanice je doporučeno si zapsat též předmět Optika a optoelektronika, který vytváří solidní základ pro snadné pochopení vykládané problematiky a porozumění měřicím a diagnostickým metodám, jež fungují na různých fyzikálních principech.

[1] A.S.Kobayashi: Handbook on Experimental Mechanics, Prentice-Hall 1987.

[2] W.N.Sharpe: Springer Handbook of Experimental Solid Mechanics, Springer 2008.

[3] T. Yoshizawa, Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, CRC Press; 2009.

[4] G.Cloud: Optical Methods of Engineering Analysis. Cambridge University Press, 1998.

[5] J.Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. Springer; 3rd ed. Berlin 2003.

[6] W.Zhou, Z.L.Wang: Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer, Berlin 2006.